時(shí)代TT230數(shù)字式涂層測(cè)厚儀
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產(chǎn)品名稱(chēng): 時(shí)代TT230數(shù)字式涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào): 0051
產(chǎn)品展商: 時(shí)代集團(tuán)
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
TT230涂層測(cè)厚儀是超小型的渦流涂鍍層測(cè)厚儀,TT230涂層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量鋁合金氧化膜以及銅鋁非磁性金屬的涂鍍層,TT230涂層測(cè)厚儀有平均值\*大值\*小值\平均值計(jì)算功能,TT230涂層測(cè)厚儀測(cè)量范圍為0～1250μm
時(shí)代TT230數(shù)字式涂層測(cè)厚儀
時(shí)代TT230數(shù)字式涂層測(cè)厚儀
的詳細(xì)介紹
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀本儀器是一種超小型的測(cè)量?jī)x。時(shí)代涂層測(cè)厚儀TT230它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。TT230涂鍍層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該TT230涂層測(cè)厚儀儀器體積小，測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀的主要功能
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。
可對(duì)測(cè)頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）?？纱尜A和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測(cè)量值。
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）。
自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量。
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯(cuò)誤提示功能。
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量原理：渦流法
測(cè)量范圍：1～1250μm
測(cè)量精度：±（3%H+1.5）μm（零點(diǎn)校準(zhǔn)）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二點(diǎn)校準(zhǔn)）
Portable Coating Thickness Gauges Model TT220 & TT230
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TT220 magnetic induction measuring principle
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TT230 eddy current measuring principle
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Measuring modes: Single/continuous
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Memory modes: Direct/batch
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Onboard memory: 15
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Automatic calculation: Mean/Max/Min/No./S.DEV
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Error detect ability: Buzz & display
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Micro printer: Can be installed
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Automatic shut-off
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Operating temperature: 32°F-113°F(0°C-45°C)
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Power source: 2 x 3.6V(NiMH batteries)
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Weight: 0.26lb (120g)
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Dimensions: 150 x 53 x 22mm
Applied Materials
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Gauge Model
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Probe Type
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Material of Coatings
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Material of substrates
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TT220
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Ferrous
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Non-magnetic
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Magnetic
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TT230
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Non-ferrous
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Insulating
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Non-magnetic metal
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Specifications of TT220 & TT230
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Gauge Model
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Measure range (μm)
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Resolution (μm)
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Tolerance (μm)
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Min curvature radius (mm)
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Min measure area (mm)
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Critical substrate thickness (mm)
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1 point calibration
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2 point calibration
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convex
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concave
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TT220
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0-1250
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1
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±(3%H+1)
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±[(1~3)%H+1]
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1.5
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9
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Ф7
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0.5
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TT230
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0-1250
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1
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±(3%H+1)
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±[(1~3)%H+1]
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1.5
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9
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Ф7
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0.5
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